咨詢熱線
13810961731
13810961731
追求合作共贏
Win win for you and me售前售中售后完整的服務(wù)體系
誠信經(jīng)營質(zhì)量保障價(jià)格合理服務(wù)完善
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > > 激光橢偏儀 > SE 800 PV激光橢偏儀
簡要描述：激光橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具。可以測(cè)量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3)。
產(chǎn)品型號(hào)：SE 800 PV廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2024-07-10訪 問 量：2779詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子/電池 |
激光橢偏儀介紹
紋路晶片
防反射涂層和鈍化層可以在單晶和多晶硅晶片上測(cè)量。
疊層防反射涂層
可以分析SiO2/SiNx、Al2O3/SiNx和SiNx1/SiNx2的涂層。
操作簡單
不管是專家還是初學(xué)者，光譜橢偏儀SE 800 PV都提供了簡單的操作。配方模式特別適合質(zhì)量控制所需的常規(guī)應(yīng)用。
激光橢偏儀是分析結(jié)晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具?？梢詼y(cè)量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3)。
SE 800 PV是基于步進(jìn)掃描分析器測(cè)量模式。步進(jìn)掃描分析器模式允許將測(cè)量參數(shù)匹配到粗糙的樣本表面，同時(shí)所有光學(xué)部件都處于靜止?fàn)顟B(tài)。SE 800 PV的光源、光學(xué)部件和檢測(cè)器進(jìn)行了優(yōu)化，以符合SENTECH的目標(biāo)，即快速、準(zhǔn)確地測(cè)量PV應(yīng)用的折射率指數(shù)、吸收和膜厚。
高測(cè)量靈敏度、去偏振校正和特殊的集光光學(xué)使SE 800 PV成為在粗糙樣品表面進(jìn)行光伏應(yīng)用的理想儀器。
光譜橢偏儀SE 800 PV具有操作簡單的特點(diǎn)、便于研發(fā)應(yīng)用。SpectraRay/4，SENTECH專有的橢偏儀軟件，包括兩種操作模式。配方模式允許在質(zhì)量控制中輕松執(zhí)行常規(guī)應(yīng)用程序。交互模式具有指導(dǎo)性的圖形用戶界面，適合于研發(fā)應(yīng)用和新配方的開發(fā)。
此外，SE 800 PV滿足SENresearch光譜橢偏儀系列的所有要求。
產(chǎn)品咨詢
