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簡要描述：晶體硅太陽電池SENperc PV是為PERC太陽能電池制造質(zhì)量控制而設(shè)計的。它測量SiO2、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜，這些單層膜和疊層膜用于PERC電池(多晶硅襯底和c-Si襯底)的正面反射和背面鈍化。對沉積過程的穩(wěn)定性進行長時間的監(jiān)測。由此，優(yōu)化了維護時間間隔。
產(chǎn)品型號：SENperc PV廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2024-07-10訪 問 量：728詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子/電池 |
晶體硅太陽電池
多晶硅和C-Si基太陽能電池的質(zhì)量控制解決方案
SENperc PV是為PERC太陽能電池制造質(zhì)量控制而設(shè)計的。它測量SiO2、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜，這些單層膜和疊層膜用于PERC電池(多晶硅襯底和c-Si襯底)的正面反射和背面鈍化。對沉積過程的穩(wěn)定性進行長時間的監(jiān)測。由此，優(yōu)化了維護時間間隔。
Al2O3和SiNx薄膜的厚度和折射率指數(shù)測量
SENperc PV 配備了基于配方的用于質(zhì)量控制按鈕操作。在樣品臺上放置一個PERC電池，涂有涂層的背面朝下以控制鈍化層。晶體硅太陽能電池插入到一個特殊的晶片架來分析防反射涂層。不需要對準。雜散光不影響測量。測量到的厚度和折射率指數(shù)被保存到SQL數(shù)據(jù)庫中。
SiO2、Al2O3和SiNx沉積的長期穩(wěn)定性監(jiān)測
統(tǒng)計制程控制(SPC)被應(yīng)用于PERC太陽能電池的評估。預(yù)置范圍應(yīng)用于良率分析。向操作人員提供直接和長期的反饋，以便立即進行干預(yù)。SQL數(shù)據(jù)庫在本地以及通過LAN可訪問，以支持電池跟蹤和良率分析。除了按鈕操作之外，SENpercPV還配備了強大的軟件接口，用于新配方的研發(fā)。
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