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三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) ACCURA即使在溫度波動(dòng)變化環(huán)境中，也能確保在高度的前提下實(shí)現(xiàn)高速檢測(cè)。全新材料的應(yīng)用使ACCURA受溫度變化的影響降到了低。ACCURA適合未來(lái)發(fā)展的應(yīng)用需求。模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使您在整個(gè)產(chǎn)品周期內(nèi)輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)設(shè)備的升級(jí)。

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 蔡司XENOS可在各類(lèi)要求高測(cè)量精度的領(lǐng)域使用——從科研機(jī)構(gòu)的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室、航空和航天工業(yè)直至光學(xué)工業(yè)。這一三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度達(dá)到技術(shù)ji限，其測(cè)量范圍近1立方米。 創(chuàng)新的機(jī)械設(shè)計(jì)

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 升級(jí)后的六大優(yōu)勢(shì)可助您精準(zhǔn)、高效地識(shí)別缺陷產(chǎn)品。憑借著先的掃描技術(shù)，計(jì)算機(jī)輔助精度(CAA)，高分辨率測(cè)量，系統(tǒng)穩(wěn)定性—ZEISS SPECTRUM在同類(lèi)產(chǎn)品中的表現(xiàn)尤為突出。

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) ZEISS CONTURA使您能夠在今天為明天的測(cè)量要求做好準(zhǔn)備：新一代機(jī)器配備多應(yīng)用探頭系統(tǒng)(大眾技術(shù))技術(shù)，并且能夠進(jìn)行通用接口，只需幾個(gè)簡(jiǎn)單步驟即可實(shí)現(xiàn)不同探頭技術(shù)之間的簡(jiǎn)單切換。除了創(chuàng)新的選項(xiàng)，例如使用靈活的旋轉(zhuǎn)臺(tái)，自動(dòng)調(diào)整更換系統(tǒng)或HTG選件(適用于徑向的溫度范圍)進(jìn)行四軸測(cè)量，該設(shè)備還代表著的性能，人體工程學(xué)和安全性。

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 從安裝臺(tái)到運(yùn)輸車(chē)，再?gòu)哪抢锏綔y(cè)量系統(tǒng)以及最終的測(cè)量位置：在測(cè)量流程的每個(gè)階段，檢驗(yàn)托盤(pán)都會(huì)轉(zhuǎn)動(dòng)到位。與起重機(jī)或手動(dòng)加載相比，檢查流程的速度和可靠性都得以提高。

計(jì)算機(jī)斷層掃描測(cè)量機(jī)（工業(yè)CT） 蔡司METROTOM是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，用于測(cè)量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統(tǒng)測(cè)量機(jī)測(cè)量時(shí)，此類(lèi)隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過(guò)費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。

計(jì)算機(jī)斷層掃描測(cè)量機(jī)（工業(yè)CT） 蔡司高分辨率工業(yè)CT檢測(cè)系統(tǒng)METROTOM 6 scout(GOM CT)以精細(xì)的細(xì)節(jié)數(shù)字化復(fù)雜零件，包括內(nèi)部幾何形狀。您將獲得用于GD&T分析或名義實(shí)際比較的完整3D圖像。計(jì)量工業(yè)CT擅長(zhǎng)數(shù)字化小型塑料零件。

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